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雷達(dá)物位計(jì)外部干擾源
關(guān)鍵字：雷達(dá)物位計(jì),雷達(dá)液位計(jì),雷達(dá)料位計(jì) 日期：2015-5-30
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雷達(dá)物位計(jì)具有低維護(hù)，高性能、高精度、高可靠性，使用壽命長(zhǎng)等優(yōu)點(diǎn)。在與電容，重錘等接觸式儀表相比較，具有無(wú)可比擬的優(yōu)越性。微波信號(hào)的傳輸不受大氣的影響，所以它可以滿足工藝過(guò)程中揮發(fā)性氣體、高溫、高壓、蒸汽、真空及高粉塵等惡劣環(huán)境的要求。
雷達(dá)物位計(jì)外部干擾源：
1）天體和天電的干擾
天體干擾是由太陽(yáng)或其他恒星輻射電磁波所產(chǎn)生的干擾。天電干擾是由雷電、大氣的電離作用、火山爆發(fā)及地震等自然現(xiàn)象所產(chǎn)生的電磁波和空間電位變化所引起的干擾。
2）機(jī)械的干擾
機(jī)械的干擾是指由于機(jī)械的振動(dòng)或沖擊，使控制儀表中的電氣元件發(fā)生振動(dòng)、變形，使連接線發(fā)生位移，使指針發(fā)生抖動(dòng)、儀表接頭松動(dòng)等。對(duì)于機(jī)械類(lèi)的干擾主要是采取減振措施來(lái)解決，例如采用減振彈簧、減振軟墊、隔板等。
3）熱的干擾
火電廠熱力設(shè)備在工作時(shí)產(chǎn)生的熱量所引起的溫度波動(dòng)和環(huán)境溫度的變化，都會(huì)引起控制儀表的電路元器件參數(shù)發(fā)生變化，從而影響控制儀表的正常工作。
4）光的干擾
在控制儀表中廣泛使用著各種半導(dǎo)體元件，這些半導(dǎo)體元件在光的作用下會(huì)改變其導(dǎo)電性能，從而影響控制儀表的正常工作。
5）濕度干擾
濕度過(guò)高會(huì)引起絕緣體的絕緣電阻下降，漏電流增加；電介質(zhì)的介電系數(shù)增加，電容量增加；吸潮后骨架膨脹使線圈阻值增加，電感器變化；應(yīng)變片黏貼后，膠質(zhì)變軟，精度下降等。
6）化學(xué)的干擾
酸、堿、鹽等化學(xué)物品以及其他腐蝕性氣體，除了具有化學(xué)腐蝕性作用將會(huì)損壞儀器設(shè)備和元器件外，又能與金屬導(dǎo)體產(chǎn)生化學(xué)電動(dòng)勢(shì)，從而影響控制儀表的正常工作。
7）電和磁的干擾
干擾有時(shí)也來(lái)自?xún)x表內(nèi)部，如電源變壓器、導(dǎo)線、印刷電路、電子元件之間的電感、電容或元器件內(nèi)部的噪聲干擾。
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